提案人 Name：楊元福

指導教授 Advisor：孫民教授 (Prof. Min Sun)

研究題目 Title：運用深度學習於半導體晶圓缺陷圖型自動識別
（Automatic Identification of Defect Patterns in Semiconductor Wafer Maps Using Deep Learning）

日期/時間 Date/Time：110年9月3日 (五) 下午3點開始 (15:00 pm-, September 3, 2021)

口試地點 Location：因應疫情緣故，改為視訊會議（Conference Call due to epidemic prevention）

口試連結 Link：https://meet.google.com/abk-njzv-wiu