【Qualifying Examination】 楊元福 / Date: September 3, 2021
提案人 Name:楊元福
指導教授 Advisor:孫民教授 (Prof. Min Sun)
研究題目 Title:運用深度學習於半導體晶圓缺陷圖型自動識別
(Automatic Identification of Defect Patterns in Semiconductor Wafer Maps Using Deep Learning)
日期/時間 Date/Time:110年9月3日 (五) 下午3點開始 (15:00 pm-, September 3, 2021)
口試地點 Location:因應疫情緣故,改為視訊會議(Conference Call due to epidemic prevention)
口試連結 Link:https://meet.google.com/abk-njzv-wiu